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納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領域研究機制

更新時間:2017-04-19      點擊次數:1856
   納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領域研究機制
  
  可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
  
  可測定固體zeta電位
  
  寬粒徑范圍(0.6nm~10μm),寬濃度范圍(粒徑測試:0.00001%~40%,zeta電位測試:0.001%~40%)
  
  可測量稀釋或濃縮的懸浮液
  
  用戶友好的軟件
  
  多種樣品池選擇
  
  可選擇一次性樣品池
  
  結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進行表征
  
  可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值
  
  納米粒度和Zeta電位分析儀使用領域研究機制:
  
  半導體
  
  研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
  
  醫藥和食品行業
  
  乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。
  
  陶瓷和顏料工業
  
  表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。
  
  聚合物和化工領域
  
  乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產紙漿過程研究,紙漿添加劑研究。

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