氧化鋁粉體的靜態圖像粒度分析及其與掃描電鏡的比較

      為了地了解顆粒的圖像和粒度信息，運用一種新型的靜態圖像粒度分析技術，對5種工藝制備α氧化鋁的粒度和顆粒形貌進行了定量分析，并與激光粒度儀的粒度分析結果和SEM顆粒形貌結果進行了對比研究。結果表明，Occhio 500nano分析技術具有強大的高分辨采樣能力和對顆粒形貌進行三維量化的微觀表征能力，可同時獲得包括顆粒的等效體積直徑、等效面積直徑、費雷特直徑、內徑、厚度、小外接圓直徑等粒度參數，以及長寬比、無規度、沃德爾球形度、歐奇奧鈍度、歐奇奧粗糙度和分形維數等顆粒形貌分布數據。此外，該方法制樣簡單，可對數萬個顆粒形貌進行定量統計分析，顆粒成像可與掃描電鏡實現很好的對應，并能捕捉到激光粒度分析難以統計到的少于1%的超大顆粒，表現出很高的性、客觀性和可靠性。因此，這種新型的分析技術有望成為包括α氧化鋁在內的多種粉體分析測試和工藝開發研究的有力工具。